- Главная
- Разное
- Образование
- Спорт
- Естествознание
- Природоведение
- Религиоведение
- Французский язык
- Черчение
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Математика
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, фоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
Презентация, доклад по химии на тему Дифракционные методы исследования
Содержание
- 1. Презентация по химии на тему Дифракционные методы исследования
- 2. Дифракционные методы:Рентгенография;Газовая электронография;Дифракция электронов;Нейтронография;Дифракция отраженных электронов;Фотокристаллогафия.Дифракцио́нные ме́тоды — совокупность методов исследования атомного строения вещества, использующих дифракцию пучка фотонов, электронов или нейтронов, рассеиваемого исследуемым объектом.
- 3. Рентгенография.x-rey.Катод (вольфрамовая нить накала);Анод (Cu,
- 4. Взаимодействие с материалом анода.Рассеяние –отклонение направления движения фотонов.Истинное поглощение –переход в другие виды энергииФотоэллектрический эффект.излучениеСплошное.Характеристическое.UUвозб
- 5. Приборы.Рентгеновская камераРентгеновский дифрактометр.КоллиматорУзел установки образцаКассета с фотопленкойМеханизм
- 6. Рентгеновская камераРентгеновский дифрактометр.Исследование монокристалловИсследование поликристалловПолучение малоугловых рентгеногаммФазовый
- 7. Дифрактометры классифицируют:по исследуемым образцам:порошковые;монокристальные;специальные.по способу регистрации излучения:Фото-методы;фотоэлектронные умножители;полупроводниковые детекторы
- 8. РСА Рентгенодифрактометрический метод — один из методов рентгеноструктурного
- 9. Рентгенограмма – набор линий различной интенсивности (пики
- 10. Индицирование рентгенограмм.2dsinθ = n λ dhkl Индицирование рентгенограмм
- 11. РФАЗадачи РФА:Определение количества фаз в образцеОпределение состава фаз Количественный анализОсновное уравнение количественного анализа
- 12. Метод внутреннего стандарта. Требования к эталону:Линии на рентгенограмме
- 13. 2. Метод добавления определяемой фазы.К исходному веществу добавляют точное количество того же вещества (определяемой фазы).Градуировочный график
- 14. 3. Прямой метод.(метод измерения коэффициента поглощения).Градуировочный графикМетод трудоемкий, редко используется.
- 15. Качественный анализ.Для уменьшения фона:U=(3-4)U0 U0 – потенциал
- 16. Методики.1.С использованием указателя Ханавальта.По самым интенсивным значениям
- 17. 1.С использованием указателя Финка.Выбирают 2 значения d
- 18. нейтронография Нейтронография (от нейтрон и «граф» — пишу)
- 19. Нейтронный дифрактометр.Устройство:Колиматор;Монохроматор;Гониометр;Счетчик.Недостатки:Весит несколько тонн;Длительное время регистрации.Источник тепловых
- 20. Применение.Определение положения в кристаллической структуре атомов с
- 21. Спасибо за внимание
Слайд 2Дифракционные методы:
Рентгенография;
Газовая электронография;
Дифракция электронов;
Нейтронография;
Дифракция отраженных электронов;
Фотокристаллогафия.
Дифракцио́нные ме́тоды — совокупность методов исследования
атомного строения вещества, использующих дифракцию пучка
фотонов, электронов или нейтронов, рассеиваемого
объектом.
Слайд 3Рентгенография.
x-rey.
Катод (вольфрамовая
нить накала);
Анод (Cu, Co, Ni);
λ :
в электромагнитном поле, преломление на границе двух сред мало.
Зарегистрировать можно с помощью:
Засвечивания фоточувствительных материалов
Люминисценции
Ионизации газов
Слайд 4Взаимодействие с материалом анода.
Рассеяние –
отклонение направления движения фотонов.
Истинное поглощение –
переход в
виды энергии
Фотоэллектрический
эффект.
излучение
Сплошное.
Характеристическое.
U U>Uвозб
Слайд 5Приборы.
Рентгеновская камера
Рентгеновский дифрактометр.
Коллиматор
Узел установки образца
Кассета с фотопленкой
Механизм движения образца
Монокристалл
Гониометр
Электронное измерительно-регистрирующее устройство
Детектор
•сцинтилляционные
• пропорциональные
•полупроводниковые
•Гейгера-Мюллера)
Слайд 6Рентгеновская камера
Рентгеновский дифрактометр.
Исследование монокристаллов
Исследование поликристаллов
Получение малоугловых рентгеногамм
Фазовый анализ поликристаллических объектов
Исследование текстур
Ориентировка
Исследование структуры при различных условиях
- Нужно проявлять фотопленку
Достоинства и недостатки
+ Высокая точность
+ Чувствительность
+ Возможность автоматизировать процесс получения информации
Слайд 7Дифрактометры классифицируют:
по исследуемым образцам:
порошковые;
монокристальные;
специальные.
по способу регистрации излучения:
Фото-методы;
фотоэлектронные умножители;
полупроводниковые детекторы
Слайд 8РСА
Рентгенодифрактометрический метод — один из методов рентгеноструктурного
анализа. Основан на использовании
одновременной регистрации интенсивности и направления дифрагированных лучей.
Задачи РСА:
Нахождение позиций атомов кристаллов
Определение симметрии
Определение формы элементарной ячейки
Нахождение пространственных групп
Разновидности метода:
1. Метод Лауэ применяется для монокристаллов.
2. Рентгенодифрактометрический метод.
3. Метод Дебая — Шеррера используется для
исследования поликристаллов и их смесей.
Слайд 9 Рентгенограмма – набор линий различной интенсивности
(пики различной высоты), их положения
брэгговскими углами рассеяния.
Рентгенограммы собраны в картотеке JCPDS.
Положение линий на рентгенограмме определяется
параметрами элементарной ячейки (a, b, c и т.д.). Каждой
линии приписывается индекс Миллера (hkl).
Кристаллическая структура определяется на основании
интенсивностей рассеянных рентгеновских лучей.
2dsinθ = n λ формула
Вульфа-Бреггов
Слайд 10Индицирование рентгенограмм.
2dsinθ = n λ
d
hkl
Индицирование рентгенограмм – определение параметров элементарной
Кубическая ячейка
Тетрагональная ячейка
Ортогональная ячейка
Набор дифракционных максимумов
Слайд 11РФА
Задачи РФА:
Определение количества фаз в образце
Определение состава фаз
Количественный анализ
Основное уравнение
количественного анализа
Слайд 12Метод внутреннего стандарта.
Требования к эталону:
Линии на рентгенограмме не должны совпадать с
Массовые коэффициенты поглощения фазы и эталона должны быть близки
Количество эталона строго определено
Градуировочный график
Слайд 132. Метод добавления определяемой фазы.
К исходному веществу добавляют точное количество того
(определяемой фазы).
Градуировочный график
Слайд 143. Прямой метод.
(метод измерения коэффициента поглощения).
Градуировочный график
Метод трудоемкий, редко используется.
Слайд 15Качественный анализ.
Для уменьшения фона:
U=(3-4)U0 U0 – потенциал возбуждения
материала анода.
Для увеличения чувствительности:
Очистка порошков от загрязнений
(магнитная сепарация,
распределение по фазам в тяжелой жидкости,
просеивание через сита с разными
размерами ячеек).
Слайд 16Методики.
1.С использованием указателя Ханавальта.
По самым интенсивным значениям d неходим группу и
Сравниваем остальные значения d.
Сопоставляем полные дифракционные спектры вещества и справочного стандарта из картотеки JCPDS.
Недостатки:
Сильное различие интенсивностей линий дифракционных спектров,
Искажение интенсивностей в спектрах многофазных веществ (наложение линий с близкими d).
Слайд 171.С использованием указателя Финка.
Выбирают 2 значения d большой интенсивности, по которым
Сопоставляются d остальных линий.
Сопоставляем полные дифракционные спектры вещества и справочного стандарта из картотеки JCPDS.
Достоинства метода:
+ В указателе Финка положение линий определяется
только знаначениями d и не зависит от I.
Слайд 18нейтронография
Нейтронография (от нейтрон и «граф» — пишу) — дифракционный метод изучения
Исследуемый объект облучается пучком нейтронов, который рассеивается на атомах вещества. Для регистрации рассеяния используются нейтронные спектрометры, при помощи которых измеряется интенсивность рассеивания нейтронов в зависимости от угла дифракции, аналогично рентгеновской дифрактометрии. По полученным дифракционным спектрам восстанавливается атомная структура исследуемого объекта.
Слайд 19Нейтронный дифрактометр.
Устройство:
Колиматор;
Монохроматор;
Гониометр;
Счетчик.
Недостатки:
Весит несколько тонн;
Длительное время регистрации.
Источник тепловых нейтронов – ядерный реактор.
E=3/2kT, T – температура замедления в ядерном реакторе.
Нейтронография применяется для задач, которые нельзя или сложно
решить другими методами.
Слайд 20Применение.
Определение положения в кристаллической структуре атомов с близкими атомными номерами.
Определение атомов
Изучение текстуры по всей толщине образца.
Магнитная нейтронография.
(Химические и магнитные элементарные ячейки могут не совпадать).
Элементарная ячейка магнитной сверхструктуры антиферромагнетика MnO (содержит 8 кристаллических ячеек).
Нейтронография – единственный прямой метод доказательства упорядоченной взаимной ориентировки спинов в антиферромагнетиках (магнитные моменты не компенсируют друг друга).
